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◆性能特點：
實現探針和樣品組合式移動掃描的商業化原子力顯微鏡。

采用三軸獨立閉環壓電平移式掃描臺，實現大范圍高精度掃描。

三軸獨立式掃描，XYZ互不影響，非常適合三維材料及形貌檢測。

電動控制樣品移動臺和升降臺，可任意編程多點位置實現快速自動化檢測。

龍門架式掃描頭設計，大理石底座，真空吸附和磁性吸附式載物臺。
馬達自動控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品。
高倍輔助光學顯微定位，實時觀測與定位探針以及樣品掃描區域。

閉環壓電掃描臺無需非線性校正，納米表征和測量精度優于99.5%。

 ◆測量范圍及應用：

測量范圍：二維、三維、Z值、相位、表面形貌、粗糙度、膜厚、形貌、相位。

應用：納米材料、石墨烯、薄膜、鈍化膜、短切玻纖復材、分子篩、TiO2、CrPS4（15）、CrPS4（16）、中空纖維膜絲、粗糙度測試、四氧化三鐵、M13-PBA等。

◆ 應用案例 Application Case